單(dan)片機 / 帶儲能(neng) / 帶閉鎖 / 直流輸(shu)出
單(dan)片機 / 帶閉(bi)鎖 / 干(gan)接(jie)點(dian) / 帶儲能 / 直流(liu)輸出
工(gong)控機 / 帶閉(bi)鎖 / 帶儲能 / 直流輸出
工控機 / 帶(dai)(dai)閉鎖 / 帶(dai)(dai)儲能(neng) / 直流輸(shu)出 / 回路電阻
工控機 / 帶閉鎖 / 帶儲能 / 直(zhi)流輸出 / 雙端接地
工控機(ji) / 帶(dai)閉鎖 / 帶(dai)儲(chu)能(neng) / 交直(zhi)流輸出
工控機 / 帶儲能(neng) / 直流(liu)輸出 / 合閘電阻(zu)
工控機(ji) / 帶(dai)儲能 / 直流輸出 / 合閘電阻 / 動(dong)態電阻
工控機 / 帶(dai)儲能 / 直(zhi)流輸(shu)出 / 合閘電(dian)阻 / 雙端(duan)接地
工控機(ji) / 帶(dai)閉鎖(suo) / 帶(dai)儲能 / 合閘電阻 / 交(jiao)直流(liu)輸(shu)出(chu)
工(gong)控(kong)機 / 帶(dai)儲(chu)能 / 直流輸出 / 合閘電(dian)阻(zu) / 石墨斷口
工控機 / 帶儲能(neng) / 直流輸出 / 合(he)閘電阻 / 石(shi)墨斷(duan)口 / 雙端接地
工控機 / 帶閉鎖 / 帶儲能 / 合閘(zha)電阻 / 直流輸出 / 雙(shuang)端接地 / 動態電阻 / 石墨觸頭
工(gong)控機 / 帶閉鎖 / 帶儲能(neng) / 合閘(zha)電阻 / 交直流輸出 / 雙端(duan)接地 / 動態(tai)電阻 / 石墨觸(chu)頭
斷(duan)路器(qi)在運行中，通過(guo)斷(duan)路器(qi)分(fen)（或合）閘線(xian)圈(quan)的電流、電壓(ya)及主回路CT二次測三相(xiang)電流等(deng)波形(xing)曲線(xian)圖譜(pu)分(fen)析，對斷(duan)路器(qi)操(cao)作(zuo)機構(gou)的狀(zhuang)態做出診斷(duan)
可(ke)以按預設的參數進行單分(fen)、單合壽命試驗
適用(yong)于開關控(kong)制設備回(hui)路電阻的測量。其測試電流采(cai)用(yong)國家標準推薦的直(zhi)(zhi)流100A。可(ke)在直(zhi)(zhi)流100A的情況下直(zhi)(zhi)接測得回(hui)路電阻，最后的測試結果用(yong)大屏幕液(ye)晶LCD顯示，并有數據(ju)存儲、輸(shu)出打(da)印、時間設置(zhi)等(deng)功能
高壓開(kai)關接觸電(dian)(dian)阻測(ce)試(shi)儀采用最新開(kai)關電(dian)(dian)源(yuan)技(ji)術，能長時間(jian)(jian)連續輸(shu)出大電(dian)(dian)流，克(ke)服了脈沖式電(dian)(dian)源(yuan)瞬間(jian)(jian)電(dian)(dian)流的(de)(de)弊(bi)端，可以有(you)效的(de)(de)擊(ji)穿開(kai)關觸頭氧化膜，得到良好的(de)(de)測(ce)試(shi)結(jie)果(guo)。
用(yong)(yong)于測(ce)量開關(guan)、斷路器等設備的接觸電(dian)(dian)阻(zu)、回路電(dian)(dian)阻(zu)及其他微歐(ou)電(dian)(dian)阻(zu)的專用(yong)(yong)測(ce)試設備
采(cai)用最新開(kai)關電源(yuan)技術，能(neng)長時間連續輸出(chu)大(da)電流(liu)，克服了脈沖(chong)式電源(yuan)瞬間電流(liu)的弊端(duan)，可以有(you)效的擊穿開(kai)關觸頭氧(yang)化(hua)膜，得到(dao)良好的測試結果。
高精(jing)度(du)回路接觸電阻(zu)測(ce)試儀在測(ce)量(liang)時，由(you)于受觸頭(tou)之間(jian)油膜(mo)和氧(yang)化層(ceng)的影(ying)響(xiang)，測(ce)量(liang)值(zhi)偏大若干倍，無法真實的反映(ying)接觸電阻(zu)值(zhi)。
智能(neng)(neng)回路(lu)接觸電(dian)阻測試儀采用高(gao)精密電(dian)子線路(lu)和(he)高(gao)性(xing)能(neng)(neng)單片(pian)機，使得儀器具有(you)測量速度快(kuai)，數值(zhi)穩定，重復性(xing)能(neng)(neng)好(hao)。
用(yong)于測(ce)(ce)量開關、斷路器(qi)(qi)、變壓器(qi)(qi)等設(she)備(bei)的(de)(de)接觸電(dian)阻、回路電(dian)阻的(de)(de)專用(yong)測(ce)(ce)試設(she)備(bei)
適用于(yu)電(dian)力部門(men)做各種開關低電(dian)壓動作(zuo)試驗及(ji)分、合閘試驗
適用(yong)于(yu)額定電流1A～500A直流斷路器(qi)(qi)的(de)安(an)秒(miao)特性測(ce)試，并可用(yong)于(yu)6A～150A直流熔(rong)斷器(qi)(qi)的(de)安(an)秒(miao)特性測(ce)試
適用(yong)于(yu)額定電流1A～1000A直流斷路器(qi)和(he)6A～100A直流熔斷器(qi)的安秒特(te)性測試(shi)
模擬(ni)斷(duan)路器的三相及(ji)(ji)分相操作、單跳(tiao)閘(zha)線圈或雙跳(tiao)閘(zha)線圈斷(duan)路器、開關自備投實驗(yan)以(yi)及(ji)(ji)開關柜跳(tiao)/合等動作行(xing)為
提供(gong)各種(zhong)交、直流電(dian)源，便于對開關柜的(de)檢測，提高工作(zuo)效率(lv)。
<dd id='JlNij'></dd>
